MIP/CPT/HPT

（一）MIP原理

MIP主体为直径约3.8公分、长30公分之金属体，其上有金属与高分子聚合物所组成之半透性薄膜，藉由加热薄膜与土壤中之挥发性有机物接触，激化后进入薄膜内部，由侦测器内部氮气携带至地面上移动式实验车内，并由气相层析仪(Gas Chromatography, GC)上之火焰离子侦测器(Flame Ionization Detector, FID)进行分析，以了解土壤污染情形。目前亦有将地电阻(Electrical Conductivity, EC)整合在一起之特殊钻头，可同时提供评估土壤物理特性之资讯。

（二）调查方法

其系采用直接贯入式(Direct Push)钻机，将MIP贯入地表下，MIP由地面控制器使薄膜加温至100～121℃，驱使土壤中有机气体被激化并渗透进入MIP表面之半透性薄膜，藉由MIP内部之载流气体(通常为氮气)将有机气体传送至GC分析，每1.5公分一组GC-FID之侦测分析数据。

于贯入过程开始时，确认讯号线与GC之联结，并开启氮气(流量通常为35至45 mL/min)，将定位器归零(即从地面开始为零)，并开始贯入动作。

贯入深度由定位器持续纪录，同时土壤中之挥发性有机物持续透过薄膜进入加温室并由氮气传送至GC-FID，样品由MIP薄膜扩散进入样品室到传输至GC-FID之延迟时间通常在30至45秒之间，惟亦取决于深度与氮气之流量。

目前MIP系统亦已整合如EC之系统并提供多讯号通道，搭配现地设备，可同时纪录多种由MIP所传回之讯息，包括EC、FID、温度及贯入深度纪录，由较高之EC值判断黏土层之存在，由FID讯号判定饱和及不饱和层受到挥发性有机物之污染，亦可继续往饱和层贯入得到DNAPL的污染调查

（三）MIP调查结果汇整及绘图

调查结果，可利用GeoProbe System公司MIP的套装软体转换可以显示数据与深度的关系，以利后续土壤采样点位的采样深度判定与评估