MIP/CPT/HPT

（一）MIP原理

MIP主體為直徑約3.8公分、長30公分之金屬體，其上有金屬與高分子聚合物所組成之半透性薄膜，藉由加熱薄膜與土壤中之揮發性有機物接觸，激化後進入薄膜內部，由偵測器內部氮氣攜帶至地面上移動式實驗車內，並由氣相層析儀(Gas Chromatography, GC)上之火焰離子偵測器(Flame Ionization Detector, FID)進行分析，以瞭解土壤污染情形。目前亦有將地電阻(Electrical Conductivity, EC)整合在一起之特殊鑽頭，可同時提供評估土壤物理特性之資訊。

（二）調查方法

其係採用直接貫入式(Direct Push)鑽機，將MIP貫入地表下，MIP由地面控制器使薄膜加溫至100～121℃，驅使土壤中有機氣體被激化並滲透進入MIP表面之半透性薄膜，藉由MIP內部之載流氣體(通常為氮氣)將有機氣體傳送至GC分析，每1.5公分一組GC-FID之偵測分析數據。

於貫入過程開始時，確認訊號線與GC之聯結，並開啟氮氣(流量通常為35至45 mL/min)，將定位器歸零(即從地面開始為零)，並開始貫入動作。

貫入深度由定位器持續紀錄，同時土壤中之揮發性有機物持續透過薄膜進入加溫室並由氮氣傳送至GC-FID，樣品由MIP薄膜擴散進入樣品室到傳輸至GC-FID之延遲時間通常在30至45秒之間，惟亦取決於深度與氮氣之流量。

目前MIP系統亦已整合如EC之系統並提供多訊號通道，搭配現地設備，可同時紀錄多種由MIP所傳回之訊息，包括EC、FID、溫度及貫入深度紀錄，由較高之EC值判斷黏土層之存在，由FID訊號判定飽和及不飽和層受到揮發性有機物之污染，亦可繼續往飽和層貫入得到DNAPL的污染調查

（三）MIP調查結果彙整及繪圖

調查結果，可利用GeoProbe System公司MIP的套裝軟體轉換可以顯示數據與深度的關係，以利後續土壤採樣點位的採樣深度判定與評估